Teradyne ha raggiunto la spedizione della sua 8.000a piattaforma di test per semiconduttori J750. Questo traguardo è stato raggiunto con V-Test, un fornitore di assemblaggio e test di semiconduttori (OSAT) in outsourcing in Cina.
Distribuito presso tutti i principali produttori di chip semiconduttori al mondo, il tester Teradyne J750 include soluzioni di wafer sort e test finale per unità microcontrollore, dispositivi wireless, sensori di immagini e altro ancora. I tester J750 sono un riferimento del settore in termini di qualità, time to market ed economicità, offrendo una maggiore produttività e un numero maggiore di siti, riducendo i tempi di test a singolo sito e ottimizzando l'efficienza dei test paralleli.
V-Test fornisce servizi di collaudo e capacità di produzione alle case fabless/design di alto livello in Cina e aziende fabless all'estero. L'azienda testa prodotti che spaziano dai sistemi su chip (SoC) consumer a quelli automotive in diversi segmenti di prodotti finali nei settori automotive, computing, mobilità, energia e prodotti consumer. I suoi clienti principali gestiscono prodotti ad alto volume e ad alto mix.
"Teradyne è un partner prezioso e collaborativo per V-Test sin dalla nostra fondazione, sette anni fa. Sono stati con noi fin dall'inizio e sappiamo per esperienza che i tester Teradyne sono all'altezza del compito", ha affermato Tony Pian, ceo di V-Test. "La qualità, l'affidabilità e la scalabilità del sistema J750 nello spazio di test MCU/SoC lo rendono la nostra piattaforma preferita. Grazie al nostro investimento in questa piattaforma, abbiamo i mezzi per far crescere ulteriormente la nostra attività e mantenere una posizione competitiva nel settore dei test sui semiconduttori."
V-Test possiede oltre 100 tester SoC Teradyne per la produzione in serie e l'ingegneria dei test, incluso uno dei primi sistemi di test UltraFLEXplus spediti aCina.
"Il team Teradyne ha lavorato con diligenza per collaborare con i clienti in tutto il mondo e fornire loro soluzioni di test adatte al set sempre più diversificato di semiconduttori", ha affermato Regan Mills, vicepresidente e direttore generale del marketing dei prodotti SoC presso Teradyne. "Questa ultima pietra miliare celebra quella partnership e l'impressionante crescita di V-Test, elevando nel contempo il loro profilo come leader del settore nel processo."
Spedizione top per piattaforma collaudata e software premiato
La famiglia J750 di Teradyne è una soluzione per test di dispositivi MCU per applicazioni automotive e consumer, nonché per test di sensori di immagini. I fornitori di semiconduttori per l'automotive si affidano a J750 per fornire risultati di test di dispositivi ripetibili e affidabili. J750 utilizza la pluripremiata piattaforma software IG-XL di Teradyne per aiutare a verificare programmi di test critici per il mercato automobilistico. Con un design "zero footprint", J750 è il gold standard per la qualità dei test poiché i produttori di semiconduttori perseguono zero difetti e produttività multi-sito.
Inoltre, la piattaforma software IG-XL è fondamentale per lo sviluppo rapido del programma. Si adatta automaticamente per supportare test multisito, risparmiando notevolmente tempo e costi di sviluppo e consente uno sviluppo più rapido del trenta percento dei programmi di test multisito rispetto ai sistemi software ATE simili.
