Advantest ha annunciato che la rivista Test & Measurement World ha assegnato il prestigioso premio 2012 Best in Test Award nella categoria dei "Test per semiconduttori" al Tester di memorie Nand Flash T5773 di Advantest. Il tester T5773 è un sistema di test su package per memorie Nand Flash che supporta interfacce ad alta velocità per SSD, cellulari e altre applicazioni, rispondendo alle esigenze di test di nuove tipologie di dispositivi che richiedono una velocità di test fino a 4 volte superiore rispetto alle generazioni precedenti. La gamma di frequenza operativa del T5773 corrisponde a 200MHz/400Mbps e offre la possibilità di collaudare 768 Dut in parallelo. Inoltre, l'innovativo design del T5773 offre non trascurabili vantaggi in termini di riduzione degli ingombri e di energia, abbattendo di conseguenza i costi di test per i clienti.
