Probe card hi-tech
Nel regno della produzione dei semiconduttori, dove precisione e affidabilità sono fondamentali, un componente critico che svolge un ruolo indispensabile è la probe card
Flying probe: oltre il test elettrico
l test flying probe, a differenza dei tradizionali percorsi di test ICT, che utilizzano fixture, è una soluzione flessibile, che consente di testare tipi diversi di schede semplicemente riprogrammando il sistema.
Nuova filiale tailandese per SPEA
SPEA annuncia l'apertura di una nuova filiale in Tailandia. La sede di Bangkok rappresenta un passo significativo nell'espansione globale dell'azienda italiana.
La generazione di forme d’onda
Un generatore di funzioni è uno strumento di test in grado di generare forme d’onda standard, come onde sinusoidali e quadre.
Jitter: errori di temporizzazione indesiderati
Il jitter è la presenza, in un segnale, di errori di temporizzazione indesiderati, con cambiamenti dei fronti che avvengono o un po’ prima o un po’ dopo rispetto a quanto previsto.
VNA modulari per misure complete su lunghe distanze
I VNA modulari ShockLine a 2 porte permettono di effettuare misure complete dei parametri S su lunghe distanze, fino a 100 metri, operando con frequenze che raggiungono i 43,5 GHz.
