Sistema di test automatico Flying Probe
Tutto, o quasi, sulla PILOT V8 NEXT>SERIES, sistema di test con 8 sonde (4 per lato) in grado di eseguire test parametrici e funzionali.
Analizzatore di spettro ottico per misurazioni IR
Yokogawa Test & Measurement Corporation presenta il suo analizzatore di spettro ottico AQ6377E per misurazioni a infrarossi a onde medie (MWIR).
EV: l’innovazione secondo TÜV SÜD
TÜV SÜD sta definendo nuovi standard nelle prove sui componenti ad alta tensione per i veicoli elettrici (prove High Voltage - HV)
Test e mobilità elettrica: un trend in crescita
Cresce la mobilità elettrica e cresce di concerto il test dei sistemi di alimentazione. Ecco il punto della situazione secondo Seica
La generazione di forme d’onda
Un generatore di funzioni è uno strumento di test in grado di generare forme d’onda standard, come onde sinusoidali e quadre.
VNA modulari per misure complete su lunghe distanze
I VNA modulari ShockLine a 2 porte permettono di effettuare misure complete dei parametri S su lunghe distanze, fino a 100 metri, operando con frequenze che raggiungono i 43,5 GHz.
Tomografia del conformal coating
Koh Young, con la soluzione Neptune dispensing process inspection (DPI), usa la tomografia per il controllo del conformal coating.
Chi plasma il futuro della taratura?
Il calibratore è uno strumento presente in tutti i laboratori di taratura elettrica del mondo. Strumento sottostimato, ma importantissimo
Tutta la potenza del boundary scan
Il test mediante JTAG boundary scan, una metodologia di collaudo che minimizza gli accessi fisici su schede ad elevata complessità
MSO8000: quando la multifunzionalità incontra l’alta qualità
La serie MSO8000 fa parte del catalogo di oscilloscopi UltraVision II di Rigol, che include anche il chipset ASIC proprietario
AI in Automatic X-ray Inspection
Omron’s VT-X750 Automatic X-ray Inspection system incorporates AI in the latest solution for manufacturers desiring high quality, in-line, automated X-ray inspection on PCBs,
Tektronix S530 Series Parametric Test System
Tektronix KTE 7-based S530 maximizes measurement performance and minimizes cost to help semiconductor manufacturers compete in high-growth emerging markets
