L’innovazione nel test di probe card
La probe card è essenzialmente un'interfaccia elettromeccanica che fornisce il contatto elettrico tra il dispositivo in prova (il wafer semiconduttore) e l'elettronica del sistema di test
Ispezione a raggi X nel segno di IA e deep learning
Progettato per ambienti a camera bianca, Omron lancia il sistema automatizzato di ispezione a raggi X VT-X950 3D-AXI per la produzione di semiconduttori.
Probe card hi-tech
Nel regno della produzione dei semiconduttori, dove precisione e affidabilità sono fondamentali, un componente critico che svolge un ruolo indispensabile è la probe card
Flying probe: oltre il test elettrico
l test flying probe, a differenza dei tradizionali percorsi di test ICT, che utilizzano fixture, è una soluzione flessibile, che consente di testare tipi diversi di schede semplicemente riprogrammando il sistema.
Sistemi di test flying probe in continua evoluzione
Il flying probe Scorpion ha adottato le soluzioni di azionamento della gamma standard fornita dagli specialisti di micromotori Faulhaber.
In-circuit testing e functional testing a confronto
L''In-Circuit Testing e il Functional Testing sono due metodi di test comunemente utilizzati per le PCBA e il test delle net list per le bare board.
Omron risponde alle esigenze di ispezione più critiche
Omron presenta VT-X850, soluzione di ispezione 3D a raggi X con tomografia computerizzata per le esigenze di ispezione più importanti.
Il Gruppo Microtest acquisisce ipTest
Microtest ora supera gli 80 milioni di fatturato e le 400 persone in organico confermando la propria forza nei sistemi di test e nel testing di microchip.
Delvitech ed Eurotech partner per il controllo di qualità
Per il controllo delle schede la collaborazione tra Delvitech ed Eurotech punta sull'ispezione ottica automatizzata guidata dall'IA.
Seica protagonista al Battery show di Stoccarda
In mostra al Battery Show di Stoccarda il sistema Pilot BT e il tester MINI200-ACIR di Seica indirizzate al settore dei veicoli elettrici.
Advantest, nuovo alimentatore per test di IA e HPC
Il nuovo alimentatore DC Scale XHC32 a 32 canali è stato sviluppato per ottimizzare i test di AI, HPC e altri dispositivi ad alta corrente.
Advantest rafforza il sistema di test SoC V93000
Presentato il nuovo alimentatore a 32 canali sviluppato per ottimizzare il test di dispositivi AI, HPC e altri dispositivi ad alta corrente.
