La sonda: collegamento diretto all’oggetto da misurare
"A cosa serve una sonda? Come può essere utilizzata? Quali sono i suoi vantaggi?” Ecco le domande che che ci si pone quando si mette in funzione un nuovo oscilloscopio
Il test in-circuit e il test funzionale
Scopo del test: garantire che il circuito stampato sia stato realizzato correttamente, testandolo in base al suo layout elettrico come previsto dal progetto
Alta definizione assicurata con ASIC Centaurus
RIGOL Technologies ha sviluppato due nuovi ASIC Centaurus per i propri oscilloscopi di nuova generazione serie DHO1000 e DHO4000
Dentro il DMM
Nel cuore dei DMM, ovvero, tutte le informazioni che servono per capire a fondo come funziona e come si usa un multimetro digitale
L’Intelligenza Artificiale nell’ispezione a raggi X
Il sistema VT-X750 di Omron integra l'intelligenza artificiale nella soluzione più recente per chi desideri un'AXI automatizzata in linea di alta qualità
Tektronix: test parametrici per tecnologia Wide Bandgap
Tektronix ha recentemente presentato il nuovo sistema di test parametrici per la produzione denominato Keithley S530, basato sul software KTE 7 e ricco di numerose novità
TRI si aggiudica il Global Technology Award
TRI ha annunciato che il sistema 3D AXI dell'azienda, il TR7600F3D SII, è stato insignito del Global Technology Award 2020.
Seika Machinery presenta l’SWB-2 Malcom
Seika Machinery presenta il tester di bilanciamento della bagnatura Malcom SWB-2.
Da PDR efficaci sistemi d’ispezione X-ray
I nuovi sistemi di ispezione a raggi-X PCB a prezzi accessibili di PDR offrono chiarezza dell'immagine di qualità nelle ispezioni professionali
Nuovi standard per la 4µm Micro Focus X-ray Source di PDR...
PDR X-ray Solutions stabilisce nuovi standard nella nitidezza dell'immagine con ispezioni a 4 µm
Da CyberOptics il nuovo sistema di visione MX3000
CyberOptics lancia il sistema 3D MX3000 Final Vision Inspection (FVI) abilitato per la soppressione multi-riflesso (MRS) per i moduli di memoria.
LX-1000: l’AOI per grandi dimensioni da YESTECH
Il nuovo sistema di ispezione ottica automatizzato LX-1000 per schede di grandi dimensioni di YESTECH migliora le capacità di ispezione
