Nordson Test & Inspection accende i riflettori sulle sue soluzioni di ispezione e metrologia avanzate, tra cui il sistema multifunzione CyberOptics SQ3000+, i nuovi sistemi di ispezione manuale a raggi X (MXI) Quadra 7 Pro e l'evoluto WaferSense Auto Teaching System (ATS2).
Il nuovo sistema Quadra 7 Pro MXI
Il nuovo sistema Quadra 7 Pro MXI stabilisce un nuovo standard per l'ispezione manuale 3D/2D nelle applicazioni back-end dei semiconduttori. Dotato della tecnologia del detector Onyx, assicura massima nitidezza delle immagini e livelli di rumore ridotti, elevando l'esperienza di ispezione a nuovi livelli di precisione ed efficienza.
Dotato del più recente tubo Quadra NT4 a doppia modalità, Quadra 7 Pro offre agli utenti la massima flessibilità. Questa caratteristica offre modalità di luminosità e risoluzione, consentendo agli operatori di passare dinamicamente da una all'altra in base ai requisiti specifici dell'applicazione.
Ad arricchire le capacità di Quadra 7 Pro è il software Revalution di nuova concezione, studiato appositamente per le applicazioni di semiconduttori di fascia alta. Con un'interfaccia intuitiva, un flusso di lavoro ottimizzato e funzionalità ampliate, il software Revalution consente agli operatori di analizzare e interpretare in modo efficiente i dati di ispezione, contribuendo a velocizzare il processo decisionale e a migliorare la produttività complessiva.
Il sistema multifunzione CyberOptics SQ3000+
Il sistema multifunzione CyberOptics SQ3000+ (immagne in apertura) è stato progettato per applicazioni di fascia alta, destinate a settori quali packaging avanzato, mini-LED, SMT avanzato e 008004/0201 SPI. Questa soluzione all-in-one assicura precisione ed elevata velocità, utilizzando un sensore Multi-Reflection Suppression (MRS) a risoluzione ancora più elevata che elimina efficacemente le distorsioni basate sulla riflessione causate da componenti lucidi e superfici speculari.
Il sistema di autoapprendimento WaferSense (ATS2)
Il sistema di autoapprendimento WaferSense (ATS2) è un sensore multicamera che, se utilizzato insieme al software CyberSpectrum, consente una calibrazione accurata del wafer per l'allineamento e l'impostazione degli strumenti per semiconduttori in ambienti di produzione di semiconduttori.
Grazie alla capacità di acquisire dati di offset tridimensionali (x, y e z) in tempo reale, ATS2 semplifica l'apprendimento della posizione del wafer senza la necessità di aprire gli strumenti. Ciò si traduce in configurazioni ripetibili e riproducibili, controlli di manutenzione semplificati, risoluzione accelerata dei problemi e riduzione delle variazioni da tecnico a tecnico, con conseguenti miglioramenti significativi della resa e aumento della produttività per le fabbriche di semiconduttori di tutto il mondo.
