Il sistema di test per unità a stato solido (SSD) MPT3000 di Advantest è diventato il primo tester di produzione SSD al mondo a essere certificato da PCI-SIG per i test di conformità ad alta velocità dei dispositivi PCI Express (PCIe) di quinta generazione (Gen 5 o 5.0). Advantest ha completato il rigoroso processo di test e ha ottenuto la certificazione ad agosto.
Precedentemente approvato per i test di conformità PCIe 4.0, l'MPT3000 è ora approvato anche per i test di conformità e certificazione ufficiali PCIe 5.0. La certificazione PCIe 5.0 è stata assegnata specificamente a due prodotti chiave della famiglia MPT3000: l'MPT3000ES3 per la progettazione e l'MPT3000HVM3 per la produzione in grandi volumi.
"Advantest ha continuamente guidato i progressi del settore, consentendo all'MPT3000 di affrontare i requisiti di test SSD associati a PCIe 5.0, compresi i dispositivi NVMe e quelli che utilizzano lo standard di interconnessione Compute Express Link o CXL", ha dichiarato Indira Joshi, vicepresidente della linea di prodotti MPT3000 di Advantest. "Questa certificazione è un'ulteriore prova del nostro impegno a soddisfare le richieste dei clienti di una soluzione di test collaudata e affidabile conforme allo standard PCIe ad alta velocità".
I test di conformità PCI-SIG garantiscono non solo l'aderenza allo standard PCIe, ma anche l'interoperabilità dei prodotti, offrendo agli integratori la sicurezza di adottare prodotti certificati per le loro esigenze applicative. Solo le apparecchiature che hanno superato l'intensa serie di test di conformità del PCI-SIG, tra cui test elettrici, di protocollo e di interoperabilità, possono essere incluse nell'elenco ufficiale degli integratori del PCI-SIG.
Dalla sua introduzione nel 2014, l'MPT3000 è diventato lo standard di fatto del settore per il test degli SSD, con un'ampia base di clienti installati che comprende produttori di dispositivi integrati (IDM), produttori di chip fabless e fornitori di assemblaggio e test di semiconduttori in outsourcing (OSAT). di assemblaggio e test dei semiconduttori (OSAT). Combinando l'esperienza di Advantest nel collaudo di system-on-chip (SoC) ad alta velocità con un'architettura elettronica all'avanguardia, l'MPT3000 dispone di capacità multiprotocollo e di un elevato parallelismo per consentire il collaudo delle prestazioni complete di una gamma di fattori di forma SSD.
Con l'aumento della velocità delle unità SSD, la gestione termica diventa una sfida sempre più impegnativa. Le più recenti aggiunte alle capacità dell'MPT3000, annunciate all'inizio di agosto, sono le schede di interfaccia dei dispositivi (DIB) Independent Thermal Control (ITC) e l'Engineering Thermal Chamber (ETC). Questi nuovi prodotti per il controllo termico sono stati sviluppati per gestire i dispositivi PCIe Gen 5 a potenza più elevata e sono compatibili con tutti i fattori di forma degli SSD testati sui sistemi MPT3000ES3 e MPT3000HVM3, consentendo ai produttori di accelerare i test in ambienti termici controllati attivamente.
