Advantest (Europe) GmbH ha ha
presentato la sua nuova soluzione di test ideata per ridurre il costo
dei test dei circuiti SoC normalmente utilizzati nei prodotti
digitali del mercato consumer e nell’elettronica automobilistica.
Questa nuova soluzione ha debuttato in questi giorni in occasione di SEMICON
Japan, dal 5 al 7 dicembre, presso il Makuhari Messe di Chiba.
Il nuovo tester, sviluppato presso il
centro R&D Advantest di Santa Clara, è composto dal nuovo
mainframe T2000 GS e dal nuovo Modulo Pin Card Digitale 250MDMA, che
permette il test in parallelo di circuiti SoC sulla piattaforma di
test T2000, rispondente alle specifiche OPENSTAR.
Considerata la più recente
soluzione di prodotto nella famiglia di sistemi di test T2000
compatibili OPENSTAR, che include il sistema mainframe T2000 LS
annunciato a giugno 2007, la nuova soluzione di test compatta T2000
offre il nuovo progetto mainframe GS insieme al nuovo modulo digitale
250MDMA, che permette il test parallelo di circuiti SoC a numero
ridotto di pin.
Maggiori informazioni è
possibile ottenerle presso il sito www.advantest.de
