In una splendida Barcellona di fine estate, Agilent, il colosso mondiale del T&M, ha riunito la stampa internazionale per esporre la propria visione del settore, fornire informazioni dettagliate sulle nuove tecnologie e sulle nuove tecniche di test, e dare dimostrazione di un ampio portafoglio di tecnologie, di prodotti e di soluzioni. Dopo il benvenuto di Jim Armentrout, responsabile a livello mondiale della divisione dedicata al wireless, Benoit Neel, Vice President e General Manager per l'area Emea di Agilent, ha confermato la focalizzazione della società nel settore delle misure e illustrato le tendenze attuali e future nel test & measurement.
Agilent, che ricordiamo nasce nel 1999 da uno spin-off di HP, dopo essere uscita dal business dei semiconduttori con la cessione prima di Avago, poi di Verigy, e dopo l'uscita dalla joint venture nei Led con Philips, è oggi un'azienda con circa 20.000 dipendenti e un fatturato di 5,4 miliardi di dollari, totalmente focalizzata nel settore della misura, in cui opera attraverso due specifiche divisioni dedicate alle misure elettroniche e alle misure bioanalitiche (bioscienze e analisi chimica). Il mercato della misura, secondo la visione di Agilent, sarà trainato nel prossimo futuro da quattro tecnologie abilitanti: quella informatica, quella dei materiali, quella energetica e la genetica, a cui si unisce un primario fattore di cambiamento di orientamento dato dall'ambientalismo. Per quanto riguarda le tendenze attuali nel mercato del test & measurement, l'accento è stato posto sul ruolo dominante delle tecnologie digitali, sulle nuove tecnologie dei materiali (nanotecnologie) e sull'accelerazione dell'evoluzione degli standard wireless, settore quest'ultimo caratterizzato da un enorme potenziale di crescita. Tutto questo in un panorama contraddistinto da globalizzazione e outsourcing, dallo spostamento del business verso aree in via di sviluppo come Brasile, Russia, India e Cina, e da una importante trasformazione in atto in settori specifici come aerospazio e difesa.
Per collaudi rapidi e precisi in tecnologia Mimo
Durante le sessioni della prima giornata particolare attenzione è stata posta alla presentazione delle più recenti innovazioni. Andy Botka ha presentato il nuovo tester Pxb per ricevitori Mimo che permetterà ai progettisti di sistemi elettronici di effettuare collaudi più rapidi e precisi dei ricevitori in tecnologia Mimo (Multiple Input Multiple Output) fin dalle premi fasi del ciclo di progettazione. Il tester Pxb offre infatti la migliore simulazione delle conduzioni reali disponibile attualmente sul mercato, e riduce notevolmente la durata del ciclo di sviluppo. Questo nuovo strumento trasforma il collaudo di sistemi Mimo grazie alla capacità di ridurre al minimo le incertezze di progettazione e il tempo di impostazione degli strumenti e del banco di misura, incrementando, al contempo, le prestazioni e la scalabilità necessarie per soddisfare i requisiti di collaudo futuri. Queste funzionalità rendono il nuovo tester per ricevitori Pxb Mimo ideale per i tecnici che sviluppano e integrano ricevitori Mimo per 3Gpp Lte, WiMax e altri standard wireless emergenti. Il tester Pxb offre le più aggiornate e versatili funzionalità di creazione del segnale ed emulazione dei canali per gli standard Lte e WiMax più recenti, supporta configurazioni Mimo 2x2, 2x4 e 4x2 con la migliore larghezza di banda del settore pari a 120 MHz e offre impostazioni di correlazione Mimo personalizzate.
Una soluzione completa per l'interfaccia DigiRF V4
A seguire un'altra novità assoluta, presentata da J.M. Dassonville. Si tratta della prima soluzione di misura completa per l'interfaccia DigiRF V4 utilizzata nella progettazione di terminali mobili. La soluzione di test DigRF offre funzionalità di stimolo e analisi complete a beneficio degli sviluppatori di circuiti integrati a radiofrequenza e circuiti integrati in banda base, oltre che agli integratori di terminali wireless. L'interfaccia DigRF V4, promossa dalla Mipi (Mobile Industry Processor Interface) Alliance, è un bus seriale digitale ad alta velocità usato per collegare i chip in banda base con i chip RF e rappresenta una tecnologia fondamentale per le comunicazioni mobili a standard Lte e WiMax. I test di tipo "multi dominio", come quelli resi possibili dall'interfaccia DigRF V4, consentono di comprendere meglio i dettagli di funzionamento del sistema dal singolo bit digitale sino ai segnali RF con modulazione IQ. La soluzione di test di Agilent consente ai tecnici di lavorare nel dominio (digitale o RF) e al livello di astrazione (livello fisico o protocollo) più consono per caratterizzare velocemente i circuiti integrati a radiofrequenza e risolvere rapidamente i problemi di integrazione multidominio.
Il nuovo tester Agilent Rdx (Radio Digital Cross-Domain) è costituito da due nuovi moduli: il modulo stimolatore Agilent N5343A e il modulo di analisi N5344A, che sono inseriti in piccole unità base modulari N2X Agilent, pensate per adattarsi ai futuri progetti Mimo.
Digitalizzatori per un'ampia gamma di applicazioni
La prima giornata si è chiusa con lo speach di Kari Fauber, che ha illustrato le criticità della digitalizzazione, come Agilent indirizza questi problemi e la posizione di leadership che detiene in questo mercato, e presentato l'ampliamento della linea di digitalizzatori Pci ad alta velocità Acquiris.
La linea di prodotti include ora nuovi modelli che offrono ulteriori funzionalità che possono essere combinate con la grande capacità di memoria da 256 MSa della serie, rendendo i digitalizzatori ideali per una più ampia gamma di applicazioni, inclusi i sistemi di collaudo automatico in produzione e per la validazione dei progetti. La nuova versione da 200 MHz offre una frequenza di campionamento sino a 1 GS/s, oltre a un'opzione di sincronizzazione multi-modulo che può essere utilizzata per creare sistemi personalizzati ad alte prestazioni. Quando sono necessari più di due canali di acquisizione dati, è possibile sincronizzare sino a tre digitalizzatori utilizzando il bus di auto-sincronizzazione da 2 GHz. Questo bus distribuisce i segnali di clock e trigger tra i digitalizzatori per generare il trigger, mentre il digitalizzatore centrale agisce come sorgente comune di clock sincrono. Disponendo di sei canali di acquisizione sincroni, le applicazioni che richiedono misure ad alta velocità intorno allo spazio 3D o sistemi energetici trifase possono essere ora integrate in un unico computer da tavolo.
Più produttività nel settore RF
La seconda giornata è stata invece occasione per fare il punto sulle soluzioni e sulle applicazioni più innovative. Da segnalare per quanto riguarda le applicazioni wireless, il nuovo analizzatore RF palmare FieldFox, lo strumento per l'installazione e la manutenzione di reti wireless più integrato al mondo che migliora la produttività dei tecnici del settore RF garantendo installazione e manutenzione più efficienti e accurate delle stazioni base, e la nuova piattaforma Eda per la progettazione elettronica a livello di sistema, denominata SystemVue 2008, che dimezza i tempi di progettazione del livello fisico per algoritmi di comunicazione ad alte prestazioni e architetture di sistemi destinati ad applicazioni nel settore wireless e nell'aerospaziale/difesa.
